我们的专利诉讼经验告诉我们，有关帮助侵权（contributory infringement)的问题经常发生在带有测量技术的专利上。为了避免这些问题，应特别注意那些不仅针对系统本身、同时针对系统重要组成部分的独立权利要求的撰写。另外，测量技术领域要求对有关产品权力要求和方法权力要求相互重叠部分的判例法有特别的了解。

在日常的工作实践中，我们的专利律师常常娴熟地应对诸如此类的挑战。由于物理学、机械工程、光学、电子学和计算机技术等各类技术常常被结合应用在测量系统中，我们也常常将在上述领域有所专长的专利律师组成团队，协同为客户服务。

比如，我们的专利律师受理了磁共振成像（magnetic resonance imaging〕和计算机断层摄影（CT，computer tomography）领域极其复杂的侵权和无效案例。